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申请/专利权人：华南理工大学
申请日：2012-08-31
公开（公告）日：2013-01-02
公开（公告）号：CN102854795A
专利技术分类：
专利摘要：本发明公开了消除测量误差和稳态误差的误差检测-K值控制法，属于自动控制领域。其具体方法为：在原控制系统基础上，增加了消除测量误差和稳态误差的误差检测-K值控制法，从而构成新控制系统，新控制系统将直接检测系统的输出值和误差信号，而不检测输出期望值，而是由得到输出期望值，再将原控制系统的输出期望值变为期望值加上K倍误差信号作为原有控制系统新的输出期望值。该方法通过控制的方式彻底消除控制系统的测量误差。同时，该方法通过K值可对多控制对象中的每一个控制对象的开环增益进行单独调节，从而便于实现每个控制对象开环增益的最优化，减少了控制系统的调试难度，使系统的稳态误差降到最低。
专利权项：1.一种消除测量误差和稳态误差的误差检测-K值控制法，其特征在于：在原控制系统基础上，增加了消除测量误差和稳态误差的误差检测-K值控制环节，从而构成新控制系统，新控制系统将直接检测原控制系统的输出值和误差信号，不检测输出期望值，而是由得到输出期望值，再将原控制系统的输出期望值变为期望值加上K倍误差信号作为原控制系统新的输出期望值。
百度查询： 华南理工大学 消除测量误差和稳态误差的误差检测-K值控制法
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