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申请/专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日：2008-08-08
公开（公告）日：2010-02-10
公开（公告）号：CN101644564A
专利技术分类：.用于计量长度、宽度或厚度（G01B11/08优先）[2006.01]
专利摘要：本发明提供一种高度检测装置，包括承载基座、顶板、活动件以及测距仪。所述承载基座具有相对的第一表面和第二表面，承载基座自第一表面向内开设有收容孔，自第二表面向内开设有与收容孔相连通的测距孔。所述收容孔用于收容顶板和活动件。所述顶板用于承载待检测元件。所述活动件连接于顶板和承载基座之间，用于调整顶板相对于承载基座的第一表面的距离。所述测距仪用于通过测距孔测量顶板与测距仪之间的距离，从而根据承载基座的高度、顶板的高度以及所测距离获得待检测元件的高度。本技术方案还提供一种高度检测方法。
专利权项：1.一种高度检测装置，包括承载基座、顶板、活动件以及测距仪，所述承载基座具有相对的第一表面和第二表面，承载基座自第一表面向内开设有收容孔，自第二表面向内开设有与收容孔相连通的测距孔，所述收容孔用于收容顶板和活动件，所述顶板用于承载待检测元件，所述活动件设置于顶板和承载基座之间，用于调整顶板相对于第一表面的距离，所述测距仪设置于第二表面，用于通过测距孔测量顶板与测距仪之间的距离，从而根据承载基座的高度、顶板的高度以及所测距离获得待检测元件的高度。
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