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申请/专利权人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日:2008-10-23
公开(公告)日:2010-06-09
公开(公告)号:CN101726229A
专利技术分类:.用于计量长度、宽度或厚度(G01B5/004,G01B5/08优先)[2006.01]
专利摘要:本发明提供一种高度规,包括底座、导柱、延伸杆以及量测部,所述导柱固定于底座,所述延伸杆包括可滑动的套设于导柱的滑动部,用于沿导柱的轴向移动,所述量测部设于延伸杆远离导柱的一端,所述量测部包括基准杆、高度量测表、测量杆、固定架、第一探针与第二探针,基准杆固定于延伸杆,高度量测表固定于基准杆,测量杆可滑动的套设于基准杆,固定架连接于测量杆远离基准杆的一端,第一探针与第二探针可转动的连接于固定架。本发明还提供一种利用上述高度规进行测量的高度测量方法。
专利权项:一种高度规,包括底座、导柱、延伸杆以及量测部,所述导柱固定于底座,所述延伸杆包括可滑动的套设于导柱的滑动部,用于沿导柱的轴向移动,所述量测部设于延伸杆远离导柱的一端,其特征在于,所述量测部包括基准杆、高度量测表、测量杆、固定架、第一探针与第二探针,基准杆固定于延伸杆,高度量测表固定于基准杆,测量杆可滑动的套设于基准杆,固定架连接于测量杆远离基准杆的一端,第一探针与第二探针可转动的连接于固定架。
百度查询: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 鸿海精密工业股份有限公司 高度规及高度测量方法
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