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申请/专利权人：上海兆芯集成电路有限公司
申请日：2018-02-24
公开（公告）日：2018-07-27
公开（公告）号：CN108335719A
专利技术分类：...测试算法，例如，存储扫描〔MScan〕算法；测试码形，例如棋盘码形[2006.01]
专利摘要：一种性能评估装置及性能评估方法。所述性能评估方法包括：检测存储器控制器的多个存取命令是否发生页错失，以从存取命令中识别至少一个页错失命令；计算所述至少一个页错失命令与先前冲突命令之间的距离作为冲突命令间距，其中所述先前冲突命令与所述页错失命令相冲突；以及依据所述冲突命令间距来评估存储器控制器的性能。
专利权项：1.一种存储器控制器的性能评估方法，包括：检测该存储器控制器的多个存取命令是否发生页错失，以从这些存取命令中识别出至少一个页错失命令；计算所述至少一个页错失命令与一先前冲突命令之间的一距离作为一冲突命令间距，其中该先前冲突命令与该页错失命令相冲突；以及依据该冲突命令间距来评估该存储器控制器的性能。
百度查询： 上海兆芯集成电路有限公司 性能评估装置及性能评估方法
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