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申请/专利权人：中国检验检疫科学研究院;同方威视技术股份有限公司
申请日：2016-09-29
公开（公告）日：2017-02-22
公开（公告）号：CN106441593A
专利技术分类：.结构零部件[2022.01]
专利摘要：公开了一种温度探测头、温度探测设备和温度探测方法。在实施例中，温度探测头可以包括：毫米波辐射计；毫米波透镜系统，用于会聚入射毫米波；参考体，用于辐射参考毫米波或者实质上不辐射毫米波；以及毫米波通路切换装置，用于将毫米波透镜系统耦接到毫米波辐射计以便毫米波辐射计能够探测入射毫米波，或者将参考体耦接到毫米波辐射计以便毫米波辐射计能够探测参考体。根据本公开的实施例，可以利用对象辐射出的毫米波，以非接触式的方式来测量对象的温度。
专利权项：一种温度探测头，包括：毫米波辐射计；毫米波透镜系统，用于会聚入射毫米波；参考体，用于辐射参考毫米波或者实质上不辐射毫米波；以及毫米波通路切换装置，用于将毫米波透镜系统耦接到毫米波辐射计以便毫米波辐射计能够探测入射毫米波，或者将参考体耦接到毫米波辐射计以便毫米波辐射计能够探测参考体。
百度查询： 中国检验检疫科学研究院 同方威视技术股份有限公司 温度探测头、温度探测设备和温度探测方法
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