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申请/专利权人：武汉大学
申请日：1991-04-13
公开（公告）日：1992-11-04
公开（公告）号：CN1065930A
专利技术分类：.采用电辐射检测器（光学或机械部件入G01J1/04；与基准光或基准电参数作比较的入G01J1/10）[2006.01]
专利摘要：本发明公开了一种微光仪，它不需要外加机械斩波器而使用内调制光电探测器，达到测量微弱光的目的。
专利权项：1、一个微光仪，它由信号发生器11、21，内调制光电探测器12、22，放大器13、25和显示部分14、24组成。其特征在于本仪器用的探测器是内调制光电探测器12、22，所说的内调制光探测器12、22是用信号发生器11、21产生的交流电压进行调制的。
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皖公网安备 34010402703815号