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申请/专利权人：瑞昱半导体股份有限公司
申请日：2007-12-21
公开（公告）日：2009-06-24
公开（公告）号：CN101465632A
专利技术分类：..应用延迟线的（H03K 5/133优先）[2014.01]
专利摘要：一种采样电路，用来采样一输入数据以得到一输出数据，该采样电路包括一延迟控制单元、一第一采样单元、一第二采样单元以及一处理单元。该延迟控制单元将一采样信号延迟一第一延迟量以产生一第一延迟信号以及延迟一第二延迟量以产生一第二延迟信号；该第一采样单元依据该第一延迟信号来采样一输入数据以得到一第一采样值，该第一采样单元用来产生该输出数据；该第二采样单元依据该第二延迟信号来采样该输入数据以得到一第二采样值；以及该处理单元根据该第一、第二采样值控制该延迟控制单元至少调整该第一延迟量以校正该第一延迟信号。
专利权项：1.一种采样电路，用来采样输入数据以得到输出数据，该采样电路包括：延迟控制单元，用来将采样信号延迟第一延迟量以产生第一延迟信号，并延迟第二延迟量以产生第二延迟信号；第一采样单元，耦接该延迟控制单元，用来依据该第一延迟信号来采样输入数据，以得到第一采样值，该第一采样单元用来产生该输出数据；第二采样单元，耦接该延迟控制单元，用来依据该第二延迟信号来采样该输入数据，以得到第二采样值；以及处理单元，耦接该延迟控制单元与该第一、第二采样单元，用来根据该第一、第二采样值，控制该延迟控制单元至少调整该第一延迟量，以校正该第一延迟信号。
百度查询： 瑞昱半导体股份有限公司 采样电路与采样方法
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