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申请/专利权人：EIZO 株式会社

申请日：2014-01-17

公开（公告）日：2018-12-21

公开（公告）号：CN105849798B

专利技术分类：...采用液晶[2006.01]

专利摘要：本发明提供一种能够考虑到显示装置的亮度测定时的温度差而进行寿命预测的寿命预测方法以及寿命预测装置。使用光传感器19测定显示器1的显示画面的亮度，并且使用温度传感器20测定显示画面周围的温度，终端装置3对应地储存有所测定的亮度和温度。终端装置3根据反复进行显示器1的测定而得到的亮度和温度，预测假设测定时的温度大致恒定时的亮度的变化趋势，根据所预测的变化趋势预测显示器1的寿命。终端装置3根据所预测的亮度的变化趋势，计算显示器1的亮度达不到极限亮度的时期，可将此时期作为显示器1的寿命到达时期。

专利权项：1.一种寿命预测方法，根据显示装置的显示特征值，预测所述显示装置的寿命，其特征在于，包括以下步骤：特征值测定步骤，反复进行所述显示装置的特征值测定；温度测定步骤，测定通过所述特征值测定步骤进行测定时的所述显示装置的温度；近似步骤，根据所述所测定的多个特征值，导出与特征值和该特征值的测定时期的对应关系相关的近似直线或者近似曲线；再近似步骤，包括：特征值误差计算子步骤，计算所述近似步骤中导出的近似直线或者近似曲线和所述特征值测定步骤中测定的各特征值的误差；温度差计算子步骤，计算特定温度与所述温度测定步骤中多次测定的温度的各差值；最大温度差提取子步骤，从所述温度差计算子步骤中算出的多个差值中提取最大温度差；最大温度差时期确定子步骤，确定测定到与所述最大温度差提取子步骤中提取的最大温度差对应的测定温度的测定时期；特征值误差提取子步骤，对与所述最大温度差时期确定子步骤中确定的测定时期对应的特征值，提取所述特征值误差计算子步骤中计算的特征值误差；以及补正子步骤，根据所述最大温度差提取子步骤中提取的最大温度差以及所述特征值误差提取子步骤中提取的特征值误差，补正所述特征值测定子步骤中测定的多个特征值；再近似子步骤，根据所述近似步骤中导出的近似直线或者近似曲线，以及所述补正子步骤中补正的特征值和所测定的温度，再导出所述近似直线或者近似曲线；以及预测步骤，根据以所述再近似步骤再导出的近似直线或者近似曲线，来预测当特征值测定时的温度为特定温度时的所述特征值的变化趋势，其中，所述特定温度是所述温度测定步骤中测定的多个温度的平均温度或者是一指定的温度；所述补正子步骤中，特征值的补正通过下式进行：F＝ΔGT’ΔTmpT’式中，F是温度补正系数，ΔGT’是所述特征值误差提取子步骤中提取的特征值误差，ΔTmpT’是所述最大温度差提取子步骤中提取的最大温度差，G’T是补正后的特征值，GT是所述特征值测定步骤中测定的特征值，ΔTmpT是所述GT测定时期对应的测定温度与所述温度测定步骤中测定的多个温度的平均温度的差值。

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