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申请/专利权人：TDK株式会社
申请日：2009-07-30
公开（公告）日：2010-02-10
公开（公告）号：CN101644561A
专利技术分类：.用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直[2006.01]
专利摘要：本发明提出一种对检测角度没有限制的角度检测装置及角度检测方法。角度检测装置10具有固定在旋转轴60上的旋转体20、相对于旋转体20的旋转中心P以π2的角度差配置在旋转体20的外周附近的一对磁传感器30A、30B、对从磁传感器30A、30B输出的检测信号进行差动运算并输出差动信号的差动运算电路41、和基于差动信号计算旋转轴60的旋转角度的角度计算电路50。旋转体20的平面形状为：以交角π2在旋转中心P相交的两直线与旋转体20的外周相交的两点Q1，Q2分别和旋转中心P之间的各自距离L1，L2之和L1+L2一定，而且，关于通过旋转中心P的直线94对称。
专利权项：1.一种角度检测装置，其特征在于，具有：旋转体，固定在旋转轴上，在将所述旋转体的旋转中心作为坐标原点，且将XY正交坐标系定义在所述旋转体的旋转平面上的时候，对于2以上的任意整数n，以交角π在所述旋转中心相交的两直线与所述旋转体的外周相交的两点分别和所述旋转中心之间的各自的距离的和一定，并且，所述旋转体投影在所述旋转平面上的平面形状关于Y＝tanπ2nX对称；第一磁传感器和第二磁传感器，相对于所述旋转中心以π的角度差配置在所述旋转体的外周附近，所述第一磁传感器检测与所述旋转体的外周和所述第一磁传感器之间的第一距离的变化相对应的磁场变化，并输出第一检测信号，该第一距离随着所述旋转体的旋转而发生周期性变化；所述第二磁传感器检测与所述旋转体的外周和所述第二磁传感器之间的第二距离的变化相对应的磁场变化，并输出第二检测信号，该第二距离随着所述第一距离的变化而发生互补性变化；差动运算单元，对所述第一检测信号和所述第二检测信号进行差动运算，并输出差动信号；以及角度计算单元，根据所述差动信号计算所述旋转轴的旋转角度。
百度查询： TDK株式会社 角度检测装置和角度检测方法
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