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申请/专利权人：日本电气株式会社
申请日：2009-10-28
公开（公告）日：2014-01-08
公开（公告）号：CN102197412B
专利技术分类：
专利摘要：一种伪装检测系统，包括：成像单元2，通过从第一角度对检查对象12进行成像，来获得第一图像，并且通过从不同于第一角度的第二角度对检查对象进行成像，来获得第二图像；特征点坐标计算单元101，从第一图像检测第一特征点，获得对检测到的第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标，并且从第二图像检测第二特征点，获得对检测到的第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标；特征点关联单元102，将第一特征点与第二特征点相关联；特征变换单元104，通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换，来获得变换后坐标；以及相似性确定单元105，当变换后坐标与第一特征点坐标之间的差等于或小于预定值时，确定试图进行伪装。
专利权项：一种伪装检测系统，包括：成像单元，通过从第一角度对检查对象进行成像，来获得第一图像，并且通过从不同于第一角度的第二角度对检查对象进行成像，来获得第二图像；特征点坐标计算单元，从第一图像检测第一特征点，获得对检测到的第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标，并且从第二图像检测第二特征点，获得对检测到的第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标；特征点关联单元，将第一特征点与第二特征点相关联；特征变换单元，通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换，来获得变换后坐标；以及相似性确定单元，当变换后坐标与第一特征点坐标之间的差等于或小于预定值时，确定试图进行伪装。
百度查询： 日本电气株式会社 伪装检测系统和伪装检测方法
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