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申请/专利权人：英特尔公司
申请日：2009-04-23
公开（公告）日：2012-07-18
公开（公告）号：CN101566958B
专利技术分类：
专利摘要：本发明的名称为检测处理器资源的架构易损性。在一个实施例中，提供一种时间片检测器以基于处理器度量标准来检测处理器的易损性测量，每个处理器度量与时间片期间的处理器结构的操作相关联，还提供控制器以基于易损性测量来控制错误缓解单元。对其他实施例进行了描述并要求其权利。
专利权项：一种用于检测处理器资源的架构易损性的装置，包括：多个计数器，所述多个计数器的每个为处理器的存储单元维护时间片期间的利用值；第二计数器，对所述时间片期间由所述处理器的预测单元作出的错误预测的数量进行计数；以及第一逻辑单元，至少部分地基于包括所述利用值的第一组利用值和所述错误预测的数量来为所述处理器的至少第一部分确定对于所述时间片的易损性测量。
百度查询： 英特尔公司 检测处理器资源的架构易损性
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