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申请/专利权人：株式会社东芝;东芝基础设施系统株式会社
申请日：2016-07-21
公开（公告）日：2018-04-17
公开（公告）号：CN107923132A
专利技术分类：.新铺面的放样或外形检查的设备或辅助装置，例如，模板、样板支架（模板导轨入E01C19/50）；测定、标示、记录现有铺面外形的设备的应用，例如，纵剖面图（E01C23/07优先；一般测量不平整度或粗糙度入G01B）[2006.01]
专利摘要：裂纹解析装置具有摄影图像取得部、裂纹检测部以及裂纹率计算部。摄影图像取得部取得对路面进行摄影而得到的摄影图像。裂纹检测部根据摄影图像，检测摄影到的路面的裂纹。裂纹率计算部根据裂纹，计算表示裂纹的面积占据预定的面积的比例的裂纹率。
专利权项：一种裂纹解析装置，具备：摄影图像取得部，取得对路面进行摄影而得到的摄影图像；裂纹检测部，根据所述摄影图像，检测摄影到的路面的裂纹；以及裂纹率计算部，根据所述裂纹，计算表示裂纹的面积占据预定的面积的比例的裂纹率。
百度查询： 株式会社东芝 东芝基础设施系统株式会社 裂纹解析装置、裂纹解析方法以及裂纹解析程序
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