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申请/专利权人：东芝三菱电机产业系统株式会社
申请日：2007-06-18
公开（公告）日：2011-11-23
公开（公告）号：CN102253120A
专利技术分类：.固体分析（利用声发射技术入G01N29/14）[2006.01]
专利摘要：本发明提供一种组织材质测定装置及组织材质测定方法，通过除去被测材料的表面附着的氧化膜，来确实地实施无损结晶粒径测量。为此在测定时，首先，向从超声波检测器对轧制产品的另一侧表面照射激光的照射位置，从表面除去装置照射激光，除去轧制产品的另一侧表面的氧化膜。除去了轧制产品的另一侧表面的氧化膜后，从超声波振荡器对轧制产品的一侧表面照射激光，使得在轧制产品的另一侧表面发生超声波振荡。然后，通过从超声波检测器对轧制产品的另一侧表面照射激光，并利用超声波检测器接收来自轧制产品的另一侧表面的反射光，从而检测在轧制产品的另一侧表面发生的超声波振荡，根据超声波检测器的检测结果，算出轧制产品的结晶粒径。
专利权项：一种组织材质测定系统，其特征在于，包括：组织材质测定装置27，设在轧制线上，非接触地测定经过所述轧制线的轧制产品的组织材质信息；组织材质信息采集装置28，采集由所述组织材质测定装置27测定的组织材质信息；工艺流程数据采集装置31，采集所述轧制线的工艺流程数据；组织材质信息预测装置32，基于由所述工艺流程数据采集装置31采集的工艺流程数据，根据预定的组织材质预测模型，算出所述轧制产品的组织材质信息；以及组织材质信息比较装置33，对由所述组织材质信息采集装置28采集的组织材质信息、与由所述组织材质信息预测装置32算出的组织材质信息进行比较。
百度查询： 东芝三菱电机产业系统株式会社 组织材质测定装置及组织材质测定方法
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