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申请/专利权人：西特尔私人有限公司
申请日：2005-12-20
公开（公告）日：2008-03-19
公开（公告）号：CN101147169A
专利技术分类：
专利摘要：描述了一种生成用于评估实体状态的分析工具的方法和系统。该方法包括获取与该实体状态有关的源数据，该实体构成所述团体的一部分，所述源数据由数据收集和分析机构生成，并且，所述源数据与至少一个变量有关，并且该变量或者每个变量包括多个驱动器；对源数据执行群集分析以生成参考数据阵列；并将参考数据阵列组织成一种形式，以用于分析从团体收集到的数据。也描述了用于评估一个实体状态的分析工具，它包括单元阵列，每个单元包含参考数据的子集，该参考数据提供与该团体状态有关的每个驱动器的度量，其中所述实体构成该团体的一部分，并且彼此相关的单元的位置由包含在单元中的参考数据的相互关系控制。
专利权项：1.一种生成用于评估实体状态的分析工具的方法，所述方法包括：获取与团体的状态有关的源数据，其中所述实体构成所述团体的一部分，所述源数据由数据收集和分析机构生成，并且所述源数据与至少一个变量有关，并且所述或每个变量包括多个驱动器；对所述源数据执行群集分析以生成参考数据阵列；以及将所述参考数据阵列组织成一种形式，以用于分析从所述团体收集到的数据。
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