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申请/专利权人：国立大学法人神户大学
申请日：2014-02-13
公开（公告）日：2015-12-02
公开（公告）号：CN105122076A
专利技术分类：..磁场分布的绘制[2006.01]
专利摘要：分布解析装置20具备：获得部21，经由传感器感受区域，按传感器感受区域的每个转动角度及每个坐标位置独立地测量的场的测量数据；以及计算部22，利用运算式，根据场的测量数据，计算场的分布，所述运算式是以表示场的分布的对象调和函数和表示传感器感受区域34的截面的形状的形状函数的合成积与暂定调和函数相等为条件来导出对象调和函数而得到的，所述传感器感受区域的截面是相对于与测量面平行的平面的、有界的传感器感受区域的截面，所述暂定调和函数是利用与测量面垂直的方向上的传感器感受区域的大小以及场的测量数据，来解拉普拉斯方程式而导出的。
专利权项：一种分布解析装置，对具有满足拉普拉斯方程式的特性的场的分布进行解析，所述分布解析装置包括：获得部，获得所述场的测量数据，该测量数据是经由传感器感受区域，按所述传感器感受区域的每个转动角度及每个坐标位置独立地测量的数据，所述传感器感受区域是以与所述场被测量的测量面垂直的轴为中心，相对地转动的有界的区域、并且是以该区域转动的状态下该区域的规定的位置与所述测量面的格子状的多个坐标位置的每一个一致的方式，相对地移动的区域、并且是该区域中所述场被合计之后被感受的区域；以及计算部，利用运算式，根据所述场的测量数据，计算所述场的分布，所述运算式是以表示所述场的分布的对象调和函数和表示所述传感器感受区域的截面的形状的形状函数的合成积，与暂定调和函数相等为条件来导出所述对象调和函数而得到的，所述传感器感受区域的截面是相对于与所述测量面平行的平面的、有界的所述传感器感受区域的截面，所述暂定调和函数是利用与所述测量面垂直的方向上的所述传感器感受区域的大小以及所述场的测量数据，来解所述拉普拉斯方程式而导出的。
百度查询： 国立大学法人神户大学 分布解析装置及分布解析方法
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