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申请/专利权人:交互通信集成有限公司
申请日:2003-06-05
公开(公告)日:2009-04-15
公开(公告)号:CN100478692C
专利技术分类:..天线的辐射图[2006.01]
专利摘要:确定辐射装置的场辐射水平的方法,包括确定辐射装置的远场辐射特性,提供辐射装置的模型,该模型近似所确定的远场辐射特性,并且对于空间中的至少一个点,根据该模型来确定近场辐射特性。
专利权项:1.一种确定辐射装置的场辐射特性的方法,包括确定辐射装置的远场辐射特性,基于所述远场辐射特性,确定所述辐射装置的模型,以及对于空间中的至少一个点,根据所述模型来确定近场辐射特性,其中,所述方法包括下列步骤:把所述辐射装置表示为多个放射电磁辐射的点源,对于每个点源估计空间中多个位置处的功率密度水平,并通过对每个点源对空间中各个位置的贡献求和,来确定每个位置处的总功率密度水平。
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