龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：意法半导体(鲁塞)公司
摘要：公开了检测破坏集成电路的完整性的企图的方法及集成电路。集成电路包括半导体衬底。半导体衬底具有正面和背面。彼此间隔开的第一触点和第二触点位于正面上。导电晶片位于背面上。检测电路被配置为检测衬底从背面的变薄。检测电路包括测量电路，该测量电路对所述至少一个第一触点、所述至少一个第二触点和所述导电晶片之间的衬底的电阻值进行测量。响应于所测量的电阻值检测到变薄。
主权项：1.一种用于检测破坏集成电路的完整性的企图的方法，所述集成电路包括具有正面和背面的半导体衬底，所述方法包括：检测所述半导体衬底从所述背面的变薄，其中检测所述变薄包括：第一测量位于所述正面上的第一触点、位于所述正面上的第二触点、以及位于所述背面上的导电晶片之间的所述半导体衬底的电阻值，其中所述第一触点和所述第二触点彼此间隔开。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 意法半导体(鲁塞)公司 检测破坏集成电路的完整性的企图的方法及集成电路
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号