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申请/专利权人：哈格-斯特莱特有限公司
申请日：2019-05-22
公开（公告）日：2020-12-29
公开（公告）号：CN112154301A
专利技术分类：.干涉仪[2022.01]
专利摘要：本申请公开了一种OCT系统，具有用于将OCT光15发射到对象光路23和参考光路24中的OCT光源16。该系统包括检测器25、52、53，用于记录从对象光路23和参考光路24产生的干涉信号。在对象光路23中布置有与偏振相关的延迟元件30。本发明还涉及相关的OCT方法。利用本发明，可以减少寄生反射的影响。
专利权项：1.一种OCT系统，用于检查测量对象14，所述OCT系统具有：用于发射OCT光15的OCT光源16；用于将所述OCT光15分配到对象光路23和参考光路24中的偏振中性分束器18、40、56；以及用于获取从所述对象光路23和所述参考光路24产生的干涉信号的检测器25、52、53，其中，在所述对象光路23中布置有与偏振相关的延迟元件30，并且其中，使所述对象光路23在从所述OCT光源16到所述测量对象14的路径上成形或偏转的所有光学元件26、27、28、29都布置在所述OCT光源16与所述延迟元件30之间。
百度查询： 哈格-斯特莱特有限公司 OCT系统和OCT方法
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