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申请/专利权人：三菱电机株式会社
申请日：2018-06-14
公开（公告）日：2021-01-26
公开（公告）号：CN112272763A
专利技术分类：
专利摘要：偏移倾向计算部22通过确定对象数据中的与其它数据偏移的数据、并计算表示确定出的数据的偏移程度的偏移得分的多个偏移值探测方法的各个偏移值探测方法，将从对象设备得到的评价数据作为输入来计算偏移得分，根据计算出的偏移得分来计算偏移倾向信息。异常探测部23针对每个异常模式，计算偏移灵敏度信息和计算出的偏移倾向信息的类似度，探测对象设备的异常，所述偏移灵敏度信息表示关于多个偏移值探测方法的各个偏移值探测方法的针对多个异常模式的各个异常模式的灵敏度。
专利权项：1.一种异常探测装置，具备：偏移倾向计算部，通过确定对象数据中的与其它数据发生偏移的数据、并计算表示确定出的数据的偏移程度的偏移得分的多个偏移值探测方法的各个偏移值探测方法，将从对象设备得到的评价数据作为输入来计算偏移得分，根据计算出的所述偏移得分来计算偏移倾向信息；以及异常探测部，针对每个异常模式，计算偏移灵敏度信息和由所述偏移倾向计算部计算出的所述偏移倾向信息的类似度，探测所述对象设备的异常，所述偏移灵敏度信息表示关于所述多个偏移值探测方法的各个偏移值探测方法的针对多个异常模式的各个异常模式的灵敏度。
百度查询： 三菱电机株式会社 异常探测装置、异常探测方法以及异常探测程序
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