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申请/专利权人：爱德万测试株式会社
申请日：2019-03-26
公开（公告）日：2021-05-04
公开（公告）号：CN112752978A
专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]
专利摘要：为了解析对受测器件进行测量而得的复数个测量值，并有效地利用解析得到的信息，提供一种解析装置，其具备：取得部，其取得复数个测量值，所述复数个测量值是经由治具对受测器件进行测量而得的；解析部，其解析复数个测量值并算出变动数据，所述变动数据表示与治具接触受测器件的接触次数对应的测量值的变动；以及，管理部，其基于变动数据来管理治具的状态。
专利权项：1.一种解析装置，其具备：取得部，其取得复数个测量值，所述复数个测量值是经由治具对受测器件进行测量而得的；解析部，其解析所述复数个测量值并算出变动数据，所述变动数据表示与所述治具接触所述受测器件的接触次数对应的测量值的变动；以及，管理部，其基于所述变动数据来管理所述治具的状态。
百度查询： 爱德万测试株式会社 解析装置、解析方法及解析程序
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