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申请/专利权人：爱德万测试株式会社
申请日：2019-03-26
公开（公告）日：2021-05-04
公开（公告）号：CN112752979A
专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]
专利摘要：为了解决解析从测量系统得到的信息来管理测量系统这一问题，提供一种解析装置，其具备：取得部，其取得复数个测量值，所述复数个测量值是试验装置对受测器件进行测量而得的；解析部，其解析复数个测量值并抽出测量值的偏差；以及，管理部，其基于测量值的偏差来检测试验装置的异常。另外，为了解决上述问题，提供一种解析方法。另外，为了解决上述问题，提供一种解析程序。
专利权项：1.一种解析装置，其具备：取得部，其取得复数个测量值，所述复数个测量值是试验装置对受测器件进行测量而得的；解析部，其解析所述复数个测量值并抽出测量值的偏差；以及，管理部，其基于所述测量值的偏差来检测所述试验装置的异常。
百度查询： 爱德万测试株式会社 解析装置、解析方法及解析程序
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