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申请/专利权人：本田技研工业株式会社

申请日：2021-03-12

公开（公告）日：2021-10-12

公开（公告）号：CN113494899A

专利技术分类：.用于计量轮廓或曲率，例如测定外形[2006.01]

专利摘要：评价第1、第2部件经由第1结合面和第2结合面结合时的结合部的精度的精度评价装置，具备取得第1、第2部件各自的设计数据以及测量数据的数据取得部、基于设计数据和测量数据，分别计算在设计上于第1、第2结合面上的相同位置上所确定的设计基准点的设计数据同与设计基准点相对应的第1结合面上的第1基准点的测量数据和与设计基准点相对应的第2结合面上的第2基准点的测量数据之间的误差的误差计算部、基于设计基准点与第1基准点之间和与第2基准点之间的误差计算第1、第2部件结合时的在设计基准点的干扰程度的干扰程度计算部以及基于设计数据显示第1、第2部件的设计模型并将表示干扰程度的图像重叠于设计基准点的位置而显示的显示部。

专利权项：1.一种精度评价装置10，为对将具有第1结合面1a的第1部件1和具有第2结合面2a的第2部件2经由所述第1结合面1a和所述第2结合面2a相互结合时的结合部的精度进行评价的精度评价装置10，其特征在于，具备：数据取得部15，其取得所述第1部件1和所述第2部件2各自的设计数据以及预先测量出的所述第1部件1和所述第2部件2各自的测量数据；误差计算部16，其基于由所述数据取得部15取得的设计数据和测量数据，分别计算在设计上于所述第1结合面1a上和所述第2结合面2a上的相互相同位置上所确定的设计基准点M30的设计数据同与所述设计基准点M30相对应的所述第1结合面1a上的第1基准点M31的测量数据之间以及与所述设计基准点M30相对应的所述第2结合面2a上的第2基准点M32的测量数据之间的误差；干扰程度计算部17，其基于由所述误差计算部16计算出的所述设计基准点M30与所述第1基准点M31之间的误差和所述设计基准点M30与所述第2基准点M32之间的误差，所述第1部件1和所述第2部件2结合时的所述设计基准点M30的干扰程度；以及显示部14，其基于由所述数据取得部15取得的设计数据，显示所述第1部件1和所述第2部件2的设计模型，并且将由所述干扰程度计算部17计算出的表示干扰程度的图像重叠于所述设计模型的所述设计基准点M30的位置而显示。

百度查询： 本田技研工业株式会社 精度评价装置及精度评价方法