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申请/专利权人:科美博阳诊断技术(上海)有限公司
申请日:2021-08-30
公开(公告)日:2022-01-25
公开(公告)号:CN215640835U
专利技术分类:.便于进行光学测试的装置或仪器[2006.01]
专利摘要:本实用新型提供了一种样本仓、样本架及样本分析仪。样本仓包括横向延伸的底板,在所述底板上设置有第一定位部,所述第一定位部构造为用于与样本架底部的第二定位部配合以使所述样本架相对于所述底板定位。
专利权项:1.一种样本仓,其特征在于,包括横向延伸的底板,在所述底板上设置有第一定位部,所述第一定位部构造为用于与样本架底部的第二定位部配合以使所述样本架相对于所述底板定位。
百度查询: 科美博阳诊断技术(上海)有限公司 样本仓、样本架及样本分析仪
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