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申请/专利权人：上海兆芯集成电路有限公司
申请日：2020-09-30
公开（公告）日：2022-09-06
公开（公告）号：CN112290932B
专利技术分类：.故障保险电路[2006.01]
专利摘要：本发明提供一种电路及其测试电路，该电路包括测试存取端口电路、路由电路、第一测试路径以及第二测试路径。路由电路的第一输入端与第一输出端分别耦接测试存取端口电路的扫描输出端与第一扫描输入端。第一测试路径的第一端耦接路由电路的第二输入端，第一测试路径的第二端耦接路由电路的第二输出端。第二测试路径的第一端耦接路由电路的第三输入端，第二测试路径的第二端耦接路由电路的第三输出端。路由电路将测试存取端口电路的扫描输出端耦接至测试存取端口电路的第一扫描输入端或第一测试路径的第一端或第二测试路径的第一端。
专利权项：1.一种电路，包括：测试存取端口电路，包括第一扫描输入端以及扫描输出端；路由电路，包括第一输入端与第一输出端、第二输入端与第二输出端以及第三输入端与第三输出端，该路由电路的该第一输入端与该第一输出端分别耦接该测试存取端口电路的该扫描输出端与该第一扫描输入端；第一测试路径，包括第一端以及第二端，该第一测试路径的该第一端耦接该路由电路的该第二输入端，该第一测试路径的该第二端耦接该路由电路的该第二输出端；以及第二测试路径，包括第一端以及第二端，该第二测试路径的该第一端耦接该路由电路的该第三输入端，该第二测试路径的该第二端耦接该路由电路的该第三输出端，其中，该路由电路将该测试存取端口电路的该扫描输出端选择性地耦接至该测试存取端口电路的该第一扫描输入端、该第一测试路径的该第一端、该第二测试路径的该第一端三者中的至少一者。
百度查询： 上海兆芯集成电路有限公司 电路及其测试电路
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