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申请/专利权人：住友电气工业株式会社
申请日：2017-04-27
公开（公告）日：2022-12-23
公开（公告）号：CN109477793B
专利技术分类：.....利用近红外光[2014.01]
专利摘要：本发明涉及一种质量评估方法，包括：获取步骤，其中通过使用包含近红外光的测量光照射细胞团块，从而获取光强度分布信息，该光强度分布信息为与所述细胞团块中测量光的吸光度分布有关的信息；以及评估步骤，其中基于所述光强度分布信息评估所述细胞团块的质量。一种质量评估装置，包括：光源，其使用包含近红外光的测量光照射细胞团块；光接收单元，其通过接收源于测量光的照射而发射自所述细胞团块的透射光或漫反射光而获得光强度分布信息，其中所述光强度分布信息包括与所述细胞团块中测量光的吸光度分布有关的信息；以及分析单元，其基于所述光强度分布信息评估所述细胞团块的质量。
专利权项：1.一种质量评估方法，包括：获取步骤，其中通过使用包含近红外光的测量光照射细胞团块，从而获取光强度分布信息，该光强度分布信息包括与所述细胞团块中各位置的吸光度有关的多项信息；以及评估步骤，基于存在吸收峰的波长区域A1的预定波长的所述光强度分布信息评估所述细胞团块的质量，所述评估步骤包括评估所述细胞团块中的偏差，其中通过使用相对于不存在吸收峰的波长区域A2中的预定波长的光的吸光度，对相对于所述波长区域A1中的所述预定波长的光的吸光度进行归一化，其中由于所述细胞团块中的细胞的凝集度以及源自所述细胞团块中细胞活动的细胞代谢物或内部物质，所述波长区域A1中的吸光度光谱的强度和波长发生改变，所述波长区域A2中的吸光度光谱的强度和波长的变化源于所述细胞团块中的细胞的凝集度。
百度查询： 住友电气工业株式会社 质量评估方法以及质量评估装置
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