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申请/专利权人：晶芯半导体(黄石)有限公司
申请日：2022-10-13
公开（公告）日：2023-01-24
公开（公告）号：CN115634722A
专利技术分类：
专利摘要：本发明提供一种取样装置及取样台，包括间隔设置的承托面及水平放置面，取样台设有穿过承托面及水平放置面的通孔，承托面相对于水平放置面的间距由承托面的边缘朝向靠近通孔的一侧趋于减小，承托面用于承托取样容器。本申请中的取样装置及取样台使用时，将水平放置面放置在废液容器上后，再将取样容器放置在承托面，可不需要取样人员手持取样容器及手扶取样台进行取样，以避免取样溶液溢至取样人员的身上，提高了取样人员取样的安全性。当取样溶液溢至承托面上时，由于承托面相对于水平放置面的间距由承托面的边缘朝向靠近通孔的一侧趋于减小，使得承托面上的取样溶液能够在重力的作用下流至通孔内，以便于对溢出的取样溶液进行清理回收。
专利权项：1.一种取样台，其特征在于，所述取样台包括间隔设置的承托面及水平放置面，所述取样台设有穿过所述承托面及所述水平放置面的通孔，所述承托面相对于所述水平放置面的间距由所述承托面的边缘朝向靠近所述通孔的一侧趋于减小，所述承托面用于承托所述取样容器。
百度查询： 晶芯半导体(黄石)有限公司 取样装置及取样台
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