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申请/专利权人：株式会社岛津制作所
申请日：2021-02-12
公开（公告）日：2023-04-04
公开（公告）号：CN115917294A
专利技术分类：...利用光电检测（G01N21/31优先）[2006.01]
专利摘要：校正运算部102基于由吸光度计算部101计算出的各波长下的吸光度，使用校正式进行运算，由此进行吸光度的校正。浊度成分检测处理部103使浊度标准溶液被供给到氧化反应部，使测定光从光源51照射到氧化反应后的浊度标准溶液，由此利用检测器52检测通过了浊度标准溶液后的测定光的多个波长下的强度。校正系数更新处理部104使得吸光度计算部101基于由浊度成分检测处理部103检测出的多个波长下的强度来计算各波长下的吸光度，并基于计算出的各波长下的吸光度，更新存储部200中存储的校正系数。
专利权项：1.一种水质分析仪，能够测定含有浊度成分的试样水中的总氮浓度，所述水质分析仪具备：氧化反应部，其使试样水中的成分发生氧化反应；光源，其对所述氧化反应部中的氧化反应后的试样水照射测定光；检测器，其检测通过了所述试样水后的测定光的多个波长下的强度；吸光度计算部，其基于由所述检测器检测出的多个波长下的强度，来计算各波长下的吸光度；校正运算部，其基于由所述吸光度计算部计算出的各波长下的吸光度，使用校正式进行运算，由此进行吸光度的校正；存储部，其存储所述校正式所包含的校正系数；浊度成分检测处理部，其使浊度标准溶液被供给到所述氧化反应部，使测定光从所述光源照射到氧化反应后的浊度标准溶液，由此利用所述检测器检测通过了浊度标准溶液后的测定光的所述多个波长下的强度；以及校正系数更新处理部，其使得所述吸光度计算部基于由所述浊度成分检测处理部检测出的所述多个波长下的强度来计算各波长下的吸光度，并基于计算出的各波长下的吸光度，更新所述存储部中存储的所述校正系数。
百度查询： 株式会社岛津制作所 水质分析仪和水质分析方法
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