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摘要：本发明公开了基于FADEC操作系统的ATP检验方法、系统和存储介质，根据控制器硬件类型和用户需求，确定通用上位机的显示界面，并且设计基于FADEC操作系统下位机的通讯协议后，在FADEC操作系统的前台调度任务中完成对控制器信号采集、信号输出、通讯发送和通讯接收功能的检测，本发明可通过实时操作系统及时发现硬件生产过程的缺陷，检测能力强；并且能够直接提供给应用软件研发人员使用，无须操作系统软件研发人员重新调试，免去硬件状态确认，提高了产品交付效率。
主权项：1.基于FADEC操作系统的ATP检验方法，其特征在于：具体包括以下步骤：S1：根据控制器硬件类型和用户需求，确定通用上位机的显示界面，对应的，设计基于FADEC操作系统下位机的通讯协议，通讯协议包括了信号采集部分和信号输出部分；S2：在FADEC操作系统的前台调度任务中进行信号采集部分的检测，将检测结果与设计要求进行对比，记录检测结果；S3：在FADEC操作系统的前台调度任务中进行信号输出部分的检测，将检测结果与设计要求进行对比，记录检测结果；S4：根据主机要求，在FADEC操作系统的前台调度任务中，对通信功能进行最大承载量检测，将检测结果与设计要求进行对比，记录检测结果；S5：在FADEC操作系统在执行完前台调度任务后，在空闲时间进入后台调度任务进行程序flash和数据flash存储器的检验，通过对比读取和写入数据，结合设计要求，记录检测结果；S6：将S2-S5的检测结果汇总，形成ATP检验结果，填入检验规程表格内，并对不符合规定的标注异常情况说明；S7：对S6中检测结果异常的项目，通过对应的信号和通讯链路，进入FADEC操作系统源代码，进行问题定位，并反馈给电子设计人员，对控制器进行修改后，完善ATP检测过程，直至S6中所有检测结果汇总形成的ATP检验结果均符合规定后执行控制器的入库操作。
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百度查询： 中国航发控制系统研究所 基于FADEC操作系统的ATP检验方法、系统和存储介质
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