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申请/专利权人：深圳大学
申请日：2023-11-23
公开（公告）日：2023-12-29
公开（公告）号：CN117308808A
专利技术分类：.用于计量固体的变形，例如光学应变仪[2006.01]
专利摘要：本申请适用于结构监测技术领域，提供了形变监测方法及形变监测系统，包括：对结构体中的多个监测点，基于至少一个辅助监测点获取目标监测点的第一测量数据，目标监测点为被监测的结构体中的监测点，辅助监测点为结构体中与目标监测点相邻的监测点，第一测量数据根据目标监测点的光束发射设备发射的光束投射到辅助监测点上的光斑的位置确定；基于各个第一测量数据、目标监测点和辅助监测点之间的间距以及基准监测点的基准沉降量和或基准偏转角度确定监测结果，基准监测点为位于结构体上或位于结构体外的具有标准测量值的监测点。本申请可用于结构高精度动态变形监测。
专利权项：1.一种形变监测方法，其特征在于，包括：对结构体中的多个监测点，基于至少一个辅助监测点获取目标监测点的第一测量数据，所述目标监测点为被监测的结构体中的监测点，所述辅助监测点为所述结构体中与所述目标监测点相邻的监测点，所述第一测量数据根据所述目标监测点的光束发射设备发射的光束投射到所述辅助监测点上的光斑的位置确定；基于各个所述第一测量数据、所述目标监测点和所述辅助监测点之间的间距以及基准监测点的基准沉降量和或基准偏转角度确定监测结果，所述基准监测点为位于所述结构体上或位于所述结构体外的具有标准测量值的监测点。
百度查询： 深圳大学 形变监测方法及形变监测系统
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