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申请/专利权人：深圳市领德创科技有限公司

摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种SSD硬盘芯片的多接口RDT测试设备及其测试方法，其中，一种SSD硬盘芯片的多接口RDT测试设备，包括壳体、滑动连接在壳体内壁上的限位机构、连接在壳体内壁上的调节机构以及滑动连接在壳体内壁上的自调节检测机构；本发明只需要将待测硬盘芯片按照设定方向放置于限位框架的限位槽中即可进行自动化夹持并调整待测硬盘芯片接口的位置，以适配自调节检测机构与其进行连接，并可调节两侧夹持力均为设定压力值，且在连接时，自调节检测机构可与不同位置处的硬盘芯片接口进行先后连接，无需将硬盘芯片放置在固定位置进行手动限位，可有效提高设备测试的效率。

主权项：1.一种SSD硬盘芯片的多接口RDT测试设备，其特征在于，包括壳体（1）、滑动连接在壳体（1）内壁上的限位机构、连接在壳体（1）内壁上的调节机构（4）以及滑动连接在壳体（1）内壁上的自调节检测机构（5），所述限位机构用于限位夹持若干个待测硬盘芯片，所述调节机构（4）用于调节自调节检测机构（5）朝向相应的待测硬盘芯片处移动；所述限位机构包括滑动连接在限位框架（201）、设于限位框架（201）上的若干个限位槽（202）、对称连接在限位槽（202）两侧壁上的两个夹持组件（3）、插接在限位框架（201）下端的底托板（203）以及连接在底托板（203）的弹性连接组件，所述壳体（1）内壁上设有与限位框架（201）相配合的限位滑轨（101），所述弹性连接组件与限位滑轨（101）滑动连接，所述夹持组件（3）用于限位夹持待测硬盘芯片；所述调节机构（4）包括纵向调节组件以及连接在纵向调节组件上的双向直线移动组件，所述双向直线移动组件与壳体（1）内壁滑动连接，所述纵向调节组件用于驱使双向直线移动组件沿着纵向移动；所述自调节检测机构（5）包括滑动连接在壳体（1）内壁上的限位导向组件以及两组滑动连接在限位导向组件上的自调节式检测组件，两个所述自调节式检测组件的另一端均与双向直线移动组件连接，双向直线移动组件用于驱使自调节式检测组件相互靠近或远离，若干个所述限位槽（202）对称设于自调节检测机构（5）的两侧，当两组自调节式检测组件相互远离时，自调节式检测组件朝向相对应设置的限位槽（202）处移动。

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