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一种基于PMC模型的并行自适应系统级故障诊断方法 

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申请/专利权人:南京邮电大学

摘要:本发明属于故障诊断领域,公开了一种基于PMC模型的并行自适应诊断方法,当指定系统中包含多个子结构且这些子结构都包含哈密顿圈时,分别对这些小的哈密顿圈进行顺时针测试,将其划分为可疑和正确两种。然后对可疑哈密顿圈进行测试,并将其划分为若干序列,根据序列的数量和PMC的测试规则将结点的状态分为故障结点,无故障结点和未知结点,对于剩余仍未知结点再进行一轮测试来确定其状态是故障的还是非故障的,从而诊断出所有故障结点。本发明能够很好地对发生故障的结点进行快速定位,具有很好的普适性和准确率,只要多处理器系统可以分为多个哈密顿圈子结构,都可以采用该诊断方法,在多处理器系统故障诊断的应用上有着广泛的市场前景。

主权项:1.一种基于PMC模型的并行自适应系统级故障诊断方法,其特征在于:所述并行自适应系统级故障诊断方法具体包括如下步骤:步骤1、将待诊断多处理器系统分为数个含有哈密顿圈的子系统,每个子系统即为一个簇,并行地为每一个簇构建其哈密顿圈,然后对于每个构建的哈密顿圈进行两轮测试,得到单向测试症状集;步骤2、根据步骤1所得的单向测试症状集,将哈密顿圈分为可疑哈密顿圈和正确哈密顿圈,正确哈密顿圈表示该哈密顿圈中的结点都是正确的,可疑哈密顿圈表示该哈密顿圈中可能含有故障结点,接着仅对可疑哈密顿圈再进行两轮测试,得到可疑哈密顿圈的双向症状集,具体包括如下步骤:步骤2-1、根据步骤1所得的单向测试症状集,对哈密顿圈进行分类,对于一个哈密顿圈单向测试症状集,如果单向测试症状集中含有1症状,则称这个哈密顿圈为可疑哈密顿圈,即哈密顿圈中极大可能存故障顶点,如果测单向测试症状集中仅有0症状,则称这个哈密顿圈为正确哈密顿圈,因为子系统不可能全部出现故障,即对于此种情况来说,该子系统中的所有结点都是正确的;步骤2-2、针对步骤2-1中的可疑哈密顿圈,沿着可疑哈密顿圈的逆时针方向进行两轮测试,第一轮测试是用编号为奇数的结点去测试编号为偶数的结点,第二轮测试是用编号为偶数的结点去测试编号为奇数的结点,得到双向症状集;步骤3、将步骤2得到的每个可疑哈密顿圈划分为若干的序列,对每个序列根据PMC测试结果的特点和PMC规则,得出其无故障结点集、故障结点集、未知结点集,无故障结点集是由无故障结点组成、故障结点集由故障结点组成、未知结点集是由未知结点组成;步骤4、用已经测试出的无故障结点去测试序列间的未知结点,该测试是在每个簇内进行;步骤5、针对剩下仍然未知结点进行一轮测试,即第五轮测试,用已知的无故障结点去测试故障结点,该测试是簇之间相互测试,经过以上五轮并行自适应诊断方案后,所有的结点的状态都能被诊断出。

全文数据:

权利要求:

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