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一种基于光纤环测量EDFA增益曲线的方法及装置 

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申请/专利权人:武汉邮电科学研究院有限公司

摘要:本申请公开了一种基于光纤环测量EDFA增益曲线的方法及装置,涉及光通信技术领域,该基于光纤环测量EDFA增益曲线的方法包括:信号源产生多波长的宽谱信号光,且一部分进入光谱仪,另一部分经过第一声光调制器进入光纤环路,并在光纤环路中传播预设的圈数和距离后,进入光谱仪;光纤环路包括待测EDFA和第二波长选择开关WSS;比较光谱仪测试的进入光纤环路前后的光谱差异,调整第二WSS的配置实现增益平坦;根据第二WSS的配置,反推得到待测EDFA的增益曲线。本申请的方法及装置,不仅实现了EDFA增益曲线的高精度测量,且测量方法简单,对于EDFA在线路中的部署优化具有重大价值。

主权项:1.一种基于光纤环测量EDFA增益曲线的方法,其特征在于,其包括步骤:信号源产生多波长的宽谱信号光,且一部分进入光谱仪,另一部分经过第一声光调制器进入光纤环路,并在光纤环路中传播预设的圈数和距离后,进入光谱仪;所述光纤环路包括待测EDFA和第二波长选择开关WSS;比较光谱仪测试的进入光纤环路前后的光谱差异,调整所述第二WSS的配置实现增益平坦;根据所述第二WSS的配置,反推得到待测EDFA的增益曲线;所述光纤环路还包括串联的第二声光调制器和第一光分路器;所述第一声光调制器控制所述宽谱信号光经过第一光分路器进入光纤环路;所述第二声光调制器控制宽谱信号光在光纤环路中传播预设的圈数和距离后,经过第一光分路器进入光谱仪;所述信号源包括ASE噪声源和第一WSS;所述信号源产生宽谱信号光具体包括:所述ASE噪声源发射宽谱信号至第一WSS;所述第一WSS对所述宽谱信号进行滤波,以构建所述宽谱信号光;所述信号源还包括非待测EDFA;当所述第一WSS构建所述宽谱信号光之后,所述宽谱信号光经过所述非待测EDFA进行放大;所述非待测EDFA与第一声光调制器之间还连接有第二光分路器;放大后的宽谱信号光经过所述第二光分路器分为两路,一路进入所述光谱仪,另一路进入所述第一声光调制器;所述待测EDFA与第二WSS之间还串联有可调光衰减器;所述待测EDFA的输出光经过所述可调光衰减器进行衰减后,进入第二WSS。

全文数据:

权利要求:

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