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申请/专利权人：爱德万测试株式会社
申请日：2019-03-26
公开（公告）日：2024-05-03
公开（公告）号：CN112752977B
专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]
专利摘要：提供一种解析装置，其具备：取得部，其取得对受测器件进行测量而得的复数个测量值；机器学习部，其使用复数个测量值，通过机器学习来学习位置依存成分的模型，所述位置依存成分依存于对受测器件进行测量的位置；以及，解析部，其从复数个测量值将位置依存成分分离出来，且所述位置依存成分是使用已通过机器学习部学习到的模型来算出的。另外，提供一种解析方法。另外，提供一种解析程序。
专利权项：1.一种解析装置，其具备：取得部，其取得试验装置经由治具对受测器件进行测量而得的复数个测量值；机器学习部，其使用所述复数个测量值，通过机器学习来学习位置依存成分的模型，所述位置依存成分依存于对所述受测器件进行测量的位置；以及，解析部，其从所述复数个测量值将位置依存成分分离出来，使用所述位置依存成分已分离出来的所述复数个测量值，产生变动数据，所述变动数据表示与所述治具接触所述受测器件的接触次数对应的测量值的变动，且所述位置依存成分是使用已通过所述机器学习部学习到的所述模型来算出的。
百度查询： 爱德万测试株式会社 解析装置、解析方法及解析程序
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