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一种具有凹槽阳极的准垂直结构GaN基SBD及其制备方法 

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申请/专利权人:北京工业大学

摘要:本发明涉及一种具有凹槽阳极的准垂直结构GaN基SBD及其制备方法。GaN基SBD包括:外延片;阴极电极,设置于暴露出的N+‑GaN层上;阳极电极,包括凹槽阳极和场板金属的第一部分,凹槽阳极设置于自台面结构上表面向下刻蚀掉一部分N‑‑GaN形成的、面积小于台面结构上表面的阳极凹槽内,场板金属的第一部分覆盖于凹槽阳极上;钝化层,设置于台面结构的侧壁上和未被刻蚀的上表面上。其中,钝化层和场板金属的第二部分共同构成场板结构,场板金属的第二部分覆盖至少一部分钝化层。依据本发明的GaN基SBD通过在台面表面刻蚀一部分N‑‑GaN层形成的凹槽阳极来提高准垂直结构SBD器件的反向击穿电压、改善反向电学特性。

主权项:1.一种具有凹槽阳极的准垂直结构GaN基SBD,其特征在于,包括:外延片101,包括自下而上依次层叠的衬底1011、缓冲层1012、N+-GaN层1013和N--GaN层1014,其中,在所述外延片101上刻蚀N--GaN层1014的一部分直至暴露出N+-GaN层1013,以使保留的N--GaN层1014区域形成台面结构;阴极电极102,设置于暴露出的N+-GaN层1013上;阳极电极106,包括凹槽阳极1061和场板金属1062的第一部分,所述凹槽阳极1061设置于自所述台面结构上表面向下刻蚀掉一部分N--GaN形成的、面积小于所述台面结构上表面的阳极凹槽内,所述场板金属1062的第一部分覆盖于所述凹槽阳极1061上;以及钝化层103,设置于所述台面结构的侧壁上和未被刻蚀的N--GaN层1014的上表面上;其中,所述钝化层103和所述场板金属1062的第二部分共同构成场板结构,所述场板金属1062的第二部分覆盖至少一部分所述钝化层103。

全文数据:

权利要求:

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