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申请/专利权人：上海御渡半导体科技有限公司

摘要：一种基于数字TDR技术的模拟测量装置和测量方法，用于测量和计算N路通道的延时信息，以及在正式测量时，对测量数据进行延时校正；该装置包括FPGA模块、与多路通道相应的引脚驱动器PE、RC滤波电路和模拟数字转换器ADC。本发明用模拟测量的低成本数字TDR技术，解决了数字集成电路测试系统引脚时间同步精度不足的问题，可进行批量自动化测试，在测试环境变化时，可便捷的重新校对测量信号，进行补偿修正，且可自动化精度调整，可针对任意路径模型进行测量，通用性能好。

主权项：1.一种基于数字TDR技术的模拟测量装置，用于测量和计算N路通道的延时信息，以及在正式测量时，对测量数据进行延时校正；其特征在于，包括FPGA模块1、N个与所述N路通道相应的引脚驱动器PE2、RC滤波电路3和模拟数字转换器ADC4；其中，FPGA模块1用于实现所述N路通道测试信号的发送、接收和数据通路的选择；其包括N路PWM生成器1-1、N路发送信号选择器1-2、N路数据发送通路1-3、N路数据接收通路1-4和一个数据通路选择器1-5；所述PWM生成器1-1用于生成每个通道的TDR测试图样；每个通道的所述发送信号选择器1-2通过使能信号TDR_EN，选择发送正常测试图样或TDR测试图样；每个通道的数据发送通路1-3包括第一可编程延时单元和发送逻辑资源单元，所述第一可编程延时单元用于在正常测试时，将本通道的正常测试图样进行延时同步，所述发送逻辑资源单元用于将所述TDR测试图样或正常测试图样发送到引脚驱动器PE2；其中，所述第一可编程延时单元的初始化值为0；每个所述引脚驱动器PE2用于对相应通道的TDR测试图样进行端口电平转换，根据电平阈值判定规则，配置不同的电平阈值；所述引脚驱动器PE2包括接收通道端cmpl、发送通道端data和与测试双向通道端；每个通道的数据接收通路1-4包含接收逻辑资源单元和第二可编程延时单元，所述逻辑资源单元用于接收通过引脚驱动器PE2输入的相应通道的测量信号，所述第二可编程延时单元用于将相应通道的测量信号进行延时同步；所述第二可编程延时用于在正常测试时，将本通道的正常接收的测试数据进行延时同步；所述数据通路选择器1-5，通过选择信号TDR_DC_SEL，选通所述N路通道之一，将测量到的TDR信号传送到外部测量单元；所述RC滤波电路3对经过判定选择之后的TDR信号，进行低通滤波，并将占空比信号转化为直流电压的模拟量信号；所述模拟数字转换器ADC4，将所述RC滤波电路3滤波以后的直流电压的模拟量信号，进行模拟-数字转换，得到数字化的电压值，对所述TDR测试图样的TDR反射信号产生不同占空比的判定结果，配合时间电压系数，从而得到相应通道的测量信号。

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