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一种基于超导纳米线的单光子偏振探测器件及其实现装置 

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申请/专利权人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所

摘要:本申请涉及一种基于超导纳米线的单光子偏振探测器件及其实现装置,包括:衬底;像元层,像元层置于衬底上;其中,像元层包括一个或多个超像元单元;每个超像元单元包括至少四个像元单元,像元单元由一条蜿蜒曲折的超导纳米线构成;且每个像元单元的超导纳米线结构的平行方向的角度各不同;利用四个超像元对偏振光的偏振角的光响应计数可以实现对线性偏振光的偏振态求解。与现有的半导体偏振探测器相比,本申请中的超导纳米线结构具有线偏振器和光子探测器的双重功能,不仅集合了超导纳米线结构单光子探测器自身的优点,还具有器件规模可拓展、结构简单等特点,有望应用于微弱光环境下的偏振探测及成像、量子通信、天文观测等。

主权项:1.一种基于超导纳米线的单光子偏振探测器件,其特征在于,包括:衬底;像元层,所述像元层设置于所述衬底;其中,所述像元层包括一个或多个超像元单元,所述多个超像元单元等间距排列;所述超像元单元包括至少四个像元单元,所述至少四个像元单元等间距排列,所述至少四个像元单元直接设置于所述衬底上;所述像元单元在预设平面上的投影面积相同,所述像元单元包括等间距且平行排列的超导纳米线结构,所述超导纳米线结构依次首尾相连,所述至少四个像元单元中的每个像元单元的超导纳米线结构的平行方向与预设方向的角度不同;在所述超像元单元包括四个像元单元的情况下,所述四个像元单元的超导纳米线结构与预设方向之间的角度依次相差45度,分别为0度、45度、90度和135度,所述四个像元单元用于提供对偏振光的光响应计数,所述偏振光的光响应计数用于联合求解线性偏振光的偏振态,所述偏振态包括偏振角、线性偏振度DoLP、偏振角度azimuth、线性偏振光的S1参数和线性偏振光的S2参数中的一种或者多种;所述超导纳米线结构包括1条超导纳米线或者多条等间距、等长度且平行排列的超导纳米线,等间距且平行排列的超导纳米线结构用于识别单光子。

全文数据:

权利要求:

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