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一种平场校正方法及系统 

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申请/专利权人:宁波江丰生物信息技术有限公司

摘要:本发明公开一种平场校正方法及系统,预先设置有一补光仓库,补光仓库中包括多个用于对荧光扫描仪进行平场校正的数据模板,每个数据模板具有设定好的标准扫描参数;则方法包括:于补光仓库中查找是否存在有数据模板的标准扫描参数与需要获取的荧光显微图像的实际扫描参数相匹配:若存在,则调用相匹配的数据模板对荧光显微图像进行平场校正,随后退出;若不存在,对荧光显微图像进行扫描,得到补光数据,根据补光数据对荧光显微图像进行平场校正,随后退出。本发明中通过数据模板对荧光显微图像进行平场校正,并通过补光数据对补光仓库进行更新,因此可以适应不同荧光通道或同一荧光通道不同曝光时长的情况,从而保证校正的准确性。

主权项:1.一种平场校正方法,应用于荧光显微图像;其特征在于,预先设置有一补光仓库,所述补光仓库中包括多个用于对荧光扫描仪进行平场校正的数据模板,每个所述数据模板具有设定好的标准扫描参数;则所述方法包括:步骤S1:于所述补光仓库中查找是否存在有所述数据模板的标准扫描参数与需要获取的所述荧光显微图像的实际扫描参数相匹配:若存在,则调用相匹配的所述数据模板对所述荧光显微图像进行平场校正,随后退出;若不存在,则转向步骤S2;步骤S2:对所述荧光显微图像进行扫描,并得到所述荧光显微图像的补光数据,根据所述补光数据对所述荧光显微图像进行平场校正,随后退出。

全文数据:

权利要求:

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