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申请/专利权人：马克思-普朗克科学促进协会
摘要：确定样品1中所含纳米粒子2的纳米粒子特性的方法，包括步骤：通过干涉显微镜装置110收集图像的连续帧，样品1被来自相干光源装置111的照明光3照射且图像由来自纳米粒子2的散射光4与非散射参考光叠加创建，散射光和参考光有大于纳米粒子2的横截面尺寸的波长；跟踪图像的连续帧中纳米粒子2，建立纳米粒子2中的每个纳米粒子的至少一个干涉点扩展函数iPSF特征，并确定每个纳米粒子2的纳米粒子轨迹运动数据，包括每帧中的纳米粒子位置；对于每个纳米粒子2，根据纳米粒子的轨迹运动数据计算纳米粒子尺寸d，根据纳米粒子的至少一个iPSF特征计算干涉纳米粒子对比度。
主权项：1.一种确定样品1中所含纳米粒子2的纳米粒子特性的方法，所述方法包括以下步骤-通过采用干涉显微镜装置110收集图像的连续帧，其中所述样品1被来自相干光源装置111的照明光3照射并且所述图像由来自所述纳米粒子2的散射光4与非散射参考光叠加创建而成，所述散射光和参考光具有大于所述纳米粒子2的横截面尺寸的波长，-跟踪所述图像的连续帧中的所述纳米粒子2，其中建立所述纳米粒子2中的每个纳米粒子的至少一个干涉点扩展函数iPSF特征，并且确定每个纳米粒子2的纳米粒子轨迹运动数据，包括每帧中的纳米粒子位置，-对于每个纳米粒子2，根据所述纳米粒子的所述轨迹运动数据计算纳米粒子尺寸d，-对于每个纳米粒子2，根据所述纳米粒子的所述至少一个iPSF特征计算干涉纳米粒子对比度C，-创建双参数纳米粒子散点图200，其中每个纳米粒子2具有基于所述计算出的纳米粒子尺寸d和所述计算出的干涉纳米粒子对比度C的绘图位置，并且所有纳米粒子2创建纳米粒子绘图位置的分布，以及-分析所述纳米粒子绘图位置的分布，用于提供所述纳米粒子特性。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 马克思-普朗克科学促进协会 用于确定样品中纳米粒子的纳米粒子特性的方法和设备
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