龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：大塚电子株式会社
申请日：2019-09-25
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN110954301B
专利技术分类：.光学性质测试[2006.01]
专利摘要：本申请涉及测定系统及测定方法。测定系统包括：积分器，具有形成于相互对置的位置的入射窗和试样窗；受光器，通过在离开试样窗规定距离的位置形成的观测窗，测定积分器的照度；挡板，配置于连结积分器内的试样窗和观测窗的光学路径上；以及处理装置，通过处理从受光器输出的测定值来计算出光学特性。入射窗构成为能选择来自配置于积分器的外部的第一光源的光的向积分器内的导入和切断。试样窗构成为能选择性地装接反射率已知的漫反射构件和第二光源。
专利权项：1.一种光学特性测定系统，其特征在于，具备：积分器，具有形成于相互对置的位置的入射窗和试样窗；受光器，通过在离开所述试样窗规定距离的位置形成的观测窗，测定所述积分器的照度；挡板，配置于连结所述积分器内的所述试样窗和所述观测窗的光学路径上；以及处理装置，通过处理从所述受光器输出的测定值来计算出光学特性，所述入射窗构成为能选择来自配置于所述积分器的外部的第一光源的光的向所述积分器内的导入和切断，在所述试样窗装接有反射率已知的漫反射构件或第二光源。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号