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一种SiC欧姆接触后金属加厚的方法 

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申请/专利权人:无锡市查奥微电子科技有限公司

摘要:本发明申请公开了一种SiC欧姆接触后金属加厚的方法,包括以下步骤:步骤S100:在SiC晶圆正面或背面制作金属层,退火后形成欧姆接触;步骤S200:在金属层上制作保护层;步骤S300:去除至少部分保护层形成剩余保护层;步骤S400:在剩余保护层上制作加厚金属层。本发明申请通过在金属层外设置了保护层,在后续工艺过程中可以保护金属层不受之后的其它工艺过程的影响,而且即使保护层被氧化后,可以使用湿法腐蚀或干法刻蚀掉保护层,保护层被氧化的部分,去除工艺受控性强,稳定性好,也不会影响到后续加厚金属层粘附效果,降低了对SiC器件的电性能的损伤。

主权项:1.一种SiC欧姆接触后金属加厚的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S100:在SiC晶圆正面或背面制作金属层,退火后形成欧姆接触;步骤S200:在金属层上制作保护层;步骤S300:去除至少部分保护层形成剩余保护层;步骤S400:在剩余保护层上制作加厚金属层;其中,所述金属层、剩余保护层、加厚金属层的厚度关系满足:P=P1+P2,1.0≤P≤8.0;P1=λ1(E1×D1E×D4+λ2(E2×D3E×D4;P2=λ3(E1×D1E2×D3;其中,P为总变形量,P1为第一变形量,P2为第二变形量;D1为所述金属层的厚度,E1为所述金属层的线膨胀率,λ1为第一变形调节系数,与所述金属层和所述加厚金属层的线膨胀率有关;D3为所述剩余保护层的厚度,E2为所述剩余保护层的线膨胀率,λ2为第二变形调节系数,与所述剩余保护层和所述加厚金属层的线膨胀率有关;D4为所述加厚金属层的厚度;E为加厚金属层的线膨胀率,λ3为第三变形调节系数,与所述金属层和所述剩余保护层的线膨胀率有关。

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权利要求:

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