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申请/专利权人：中国人民解放军战略支援部队信息工程大学
摘要：本发明属于CL系统参数校正技术领域，特别涉及一种基于特征点投影轨迹的锥束CL几何参数自标定方法及系统，该方法包含首先构建关于CL系统几何参数的点投影轨迹模型；然后在样品投影图像中提取特征点，并追踪获取特征点在绕旋转轴360度范围内的点投影轨迹作为观测数据，由观测数据根据点投影轨迹模型估计参数；最后通过优化点投影轨迹模型与观测数据最佳拟合求解CL系统几何参数。本发明能够高精度标定旋转轴倾斜角a，探测器面内旋转角η，以及探测器向中心uc,vc，有效消除几何伪影，且对噪声不敏感。
主权项：1.一种基于特征点投影轨迹的锥束CL几何参数自标定方法，其特征在于，包含：首先构建关于CL系统几何参数的点投影轨迹模型；然后在样品投影图像中提取特征点，并追踪获取特征点在绕旋转轴360度范围内的点投影轨迹作为观测数据，由观测数据根据点投影轨迹模型估计参数；最后通过优化点投影轨迹模型与观测数据最佳拟合求解CL系统几何参数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学 基于特征点投影轨迹的锥束CL几何参数自标定方法及系统
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