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申请/专利权人:中国地质大学(武汉)
摘要:本发明涉及结构面测量技术领域,提供了一种三维激光扫描合理采样间距确定方法、设备及存储介质,方法为:采集岩体结构面样本;利用三维激光扫描采集结构面点云数据;对采集到的点云数据进行滤波去噪等预处理;室内力学试验确定岩石力学参数;利用处理后的结构面点云数据计算由粗糙度统计参数得到的不同间距下的JRC值;根据不同间距与粗糙度系数JRC值的散点图拟合不同形式的关系曲线,得到拟合公式;利用所述岩石力学参数对结构面样本的粗糙度系数反算,得到反算JRC结果;根据不同间距与粗糙度系数JRC的关系公式和反算JRC结果代入拟合公式确定粗糙度评价的合理采样间距。本发明能降低岩体结构面粗糙度评价过程中的误差。
主权项:1.一种三维激光扫描合理采样间距确定方法,其特征在于:包括以下步骤:S1:采集岩体结构面样本;S2:利用三维激光扫描采集结构面样本的点云数据;S3:对采集到的点云数据进行预处理,得到预处理后的数据;S4:对所述结构面样本进行室内力学试验,确定岩石力学参数;S5:利用所述预处理后的数据计算由粗糙度统计参数得到的不同间距下的粗糙度系数JRC值;S6:根据不同间距与粗糙度系数JRC值的散点图拟合不同形式的关系曲线,得到拟合公式;S7:利用所述岩石力学参数对结构面样本的粗糙度系数反算,得到反算JRC结果;S8:根据步骤S6中不同间距与粗糙度系数JRC的关系公式,再根据步骤S7中的反算JRC结果代入拟合公式确定粗糙度评价的合理采样间距。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 中国地质大学(武汉) 三维激光扫描合理采样间距确定方法、设备及存储介质
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