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申请/专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
摘要：本发明公开了一种ADC采集测试模块，包括：前端调理单元，其输入端接收高频模拟信号，其用于将高频模拟信号进行差分变化、增益调节和低通滤波后输出至高速ADC采集单元；ADC采集单元，其基于指定时钟进行信号采样，获得采样信号后输出至后端信号处理单元；后端信号处理单元，其对采样信号进行功率谱估计获得采样信号的频谱性能。本发明能用于数据量大、频带宽、高速采集应用场合，能提供良好的采集和测试精度。
主权项：1.一种ADC采集测试模块，其特征在于，包括：前端调理单元，其输入端接收高频模拟信号，其用于将高频模拟信号进行差分变化、增益调节和低通滤波后输出至高速ADC采集单元；ADC采集单元，其基于指定时钟进行信号采样，获得采样信号后输出至后端信号处理单元；后端信号处理单元，其对采样信号进行功率谱估计获得采样信号的频谱性能。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海华虹集成电路有限责任公司 ADC采集测试模块
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