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检测支座上至少一个缺陷的方法、相关设备和计算机程序 

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申请/专利权人:AQC工业公司

摘要:一种用于检测织物或砖块等支座上至少一个缺陷的方法,该方法包括:获取ACQ支座的至少一个第一图像;生成与至少一个第一图像的二维光谱空间相对应的第二图像;将至少一个选定的频率范围从二维频谱空间的至少第一区域移向二维频谱空间的第二区域;过滤二维频谱空间的至少一个频率范围,以移除支座的至少一个预定义图案;将至少一个选定的频率范围从新二维频谱空间的第二区域移向新二维频谱空间的第一区域;对二维频谱空间的频域进行反向RVRS变换,以获得最终图像。

主权项:1.一种用于检测织物或砖块等支座100上至少一个缺陷10的方法,所述方法包括:·获取ACQ支座100、101的至少一个第一图像IM1;·生成至少一个所述第一图像IM1的第一二维频谱空间FFT1,所述第一二维频谱空间FFT1包括表征所述第一图像IM1特征的频率的二维频谱表示;·过滤所述第一二维频谱空间FFT1的至少一个频率范围FR,以移除至少一个预定义图案Pa、Pa1、Pa2;·在所述第一二维频谱空间FFT1中选择至少一个第一频率范围[a;b];·将选定的所述第一频率范围[a;b]从所述第一二维频谱空间FFT1的至少第一区域A1移向所述第一二维频谱空间FFT1的第二区域A2;·重新调整所述第一二维频谱空间FFT1的大小;·通过应用以下步骤中的至少一个步骤,在第二频率范围[c,d]上生成第二二维频谱空间FFT2:缩小或裁剪所述第一图像IM1,分别输出所需的缩小图像或裁剪图像;或利用边距填充放大或增大所述第一图像IM1,以分别输出所需的放大图像或增大图像;·在所述第二二维频谱空间FFT2中选择第三频率范围[a';b];·将所述第三频率范围[a';b']从所述第二二维频谱空间FFT2的第二区域A'2移向所述第二二维频谱空间FFT2的第一区域A'1;·对所述第二二维频谱空间FFT2的频域进行反向RVRS变换,以获得所述最终图像IMF;·在所述最终图像IMF上检测DTCT至少一个缺陷10;·标注LAB所述第一图像IM1上的每个缺陷10;·在检测DTCT到至少一个缺陷10后,生成至少一条指令C1。

全文数据:

权利要求:

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