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测试控制电路、测试系统、测试控制方法及存储器 

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申请/专利权人:长鑫存储技术有限公司

摘要:本公开提供一种测试控制电路、测试系统、测试控制方法及存储器,涉及半导体测试技术领域。测试控制电路包括:第一模式寄存器、第二模式寄存器、第一处理电路和第一译码器。第一模式寄存器的输出端、第二模式寄存器的输出端均连接至第一处理电路的输入端,用于在第一模式寄存器和第二模式寄存器均处于工作状态时,根据外部通用端口发送的第一时钟信号生成译码时钟信号;第一处理电路的输出端连接至第一译码器的第一输入端,第一译码器用于在译码时钟信号的控制下,对第一译码器的第二输入端接收到的命令地址信号进行译码,以使能译码结果指示的目标测试电路,生成对应的测试命令。本公开在存储器封装好之后通过外部通用端口使能目标测试电路。

主权项:1.一种测试控制电路,其特征在于,包括:第一模式寄存器、第二模式寄存器、第一处理电路和第一译码器;所述第一模式寄存器的输出端、所述第二模式寄存器的输出端均连接至所述第一处理电路的输入端,所述第一处理电路用于在所述第一模式寄存器和所述第二模式寄存器均处于工作状态的情况下,根据外部通用端口发送的第一时钟信号生成译码时钟信号;所述第一处理电路的输出端连接至所述第一译码器的第一输入端,所述第一译码器用于在所述译码时钟信号的控制下,对所述第一译码器的第二输入端接收到的命令地址信号进行译码,以使能译码结果指示的目标测试电路,生成对应的测试命令。

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权利要求:

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