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一种大功率半导体激光器晶圆P面图形化电镀金的方法 

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申请/专利权人:山东华光光电子股份有限公司

摘要:本发明涉及一种大功率半导体激光器晶圆P面图形化电镀金的方法,属于大功率半导体激光器电镀金电极技术领域。本发明大功率激光器的待镀金区域为薄金种子层,非镀金区域为纳米级SiO2绝缘层,代替了较厚的光刻胶绝缘层,从而降低电镀后大功率半导体激光器图形化的偏离度,改善纵向发散角;同时,此方法为全覆盖TiPtAu种子层,无需剥离去除非镀金区上的TiPtAu种子层,在非镀金区上生长纳米级SiO2绝缘层,保证了整个晶圆的导电性一致,镀层均匀性稳定在10%内,有利于大功率半导体激光器的焊线封装。此方法也避免了碱性电镀液中光刻胶的溶解,避免了电镀液的污染和电镀镀层的污染,大大提高了镀层金属良率和电镀液的利用率。

主权项:1.一种大功率半导体激光器晶圆P面图形化电镀金的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:采用电子束蒸发工艺,在大功率半导体激光器晶圆表面蒸镀薄金种子层;S2:在步骤S1的中的薄金种子层上,采用PECVD沉积绝缘层;S3:对步骤S2处理后的晶圆表面旋涂一层光刻胶,曝光、显影后,光刻胶保留在非镀金区上,待镀金区上暴露绝缘层;S4:采用BOE腐蚀液,腐蚀去除步骤S3中待镀金区域上暴露的绝缘层;S5:对经过步骤S4处理的晶圆湿法去除非镀金区上的光刻胶,进入下一工序;S6:采用电镀工艺对经过步骤S5处理的晶圆表面进行电镀金,在待镀金区形成电镀厚金层,非镀金区裸露绝缘层。

全文数据:

权利要求:

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