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申请/专利权人：浙江清华柔性电子技术研究院;清华大学
摘要：本实用新型涉及一种柔性芯片弯曲能力检测装置，包括弧形块、第一压杆、第二压杆、第一夹具和第二夹具；所述第一夹具和所述第二夹具用于夹持柔性衬底，所述弧形块位于所述第一夹具和所述第二夹具之间；所述第一压杆活动设置在所述第一夹具和所述弧形块之间，所述第二压杆活动设置在所述第二夹具和所述弧形块之间，所述柔性衬底上的柔性芯片位于所述弧形块处；所述第一压杆和所述第二压杆用于将所述柔性衬底压向所述弧形块，以使所述柔性芯片贴合在所述弧形块上。
主权项：1.一种柔性芯片弯曲能力检测装置，其特征在于，包括弧形块、第一压杆、第二压杆、第一夹具和第二夹具；所述第一夹具和所述第二夹具用于夹持柔性衬底，所述弧形块位于所述第一夹具和所述第二夹具之间；所述第一压杆活动设置在所述第一夹具和所述弧形块之间，所述第二压杆活动设置在所述第二夹具和所述弧形块之间，所述柔性衬底上的柔性芯片位于所述弧形块处；所述第一压杆和所述第二压杆用于将所述柔性衬底压向所述弧形块，以使所述柔性芯片贴合在所述弧形块上。
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百度查询： 浙江清华柔性电子技术研究院 清华大学 一种柔性芯片弯曲能力检测装置
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