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一种不完全信息下计及残差污染的LN-FDIA方法 

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申请/专利权人:华北电力大学

摘要:本申请涉及电力系统攻击测试技术领域,公开了一种不完全信息下计及残差污染的LN‑FDIA方法,包括以下步骤:S1、获取系统量测向量、雅可比矩阵及误差方差矩阵;S2、选定攻击目标量测点;S3、用图论算法找最小攻击子图;S4、在子图内选择非攻击点注入极大值,在目标点注入合理虚假数据;S5、剔除极大值注入点,计算加权残差灵敏度矩阵;S6、判断是否满足条件;S7、若满足,记录组合;若不满足,重新选取极大值注入组合,跳转至S5;S8、输出最小攻击代价组合。本发明拓展了虚假数据注入攻击的隐蔽性范式,仅需掌握局部拓扑结构和线路参数,即可在几十毫秒内构造攻击向量,以低成本误导直流交流状态估计结果。

主权项:1.一种不完全信息下计及残差污染的LN-FDIA方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、获取系统量测向量z、量测雅可比矩阵H以及量测误差方差矩阵R;S2、选定攻击目标量测点k,向其注入合理上限内的虚假数据;S3、采用基于图论的搜索算法寻找最小攻击子图;S4、在攻击子图内选取不包括量测点k的i个量测点,注入极大值虚假数据;S5、剔除上述极大值注入点,计算降维后的加权残差灵敏度矩阵Wd;S6、判断是否满足:|Wwdkk|≠||Wwdk||∞或|WAdkk|≠||WAdk||∞其中,Wwd表示剔除极大值量测点后的降维加权残差灵敏度矩阵,WA表示攻击者掌握的局部拓扑下的降维加权残差灵敏度矩阵;S7、若满足,则记录下该组合,并继续遍历注入极大值个数为i的组合;若不满足,继续遍历注入极大值个数为i的组合,并重复步骤S4至S7。S8、遍历所有注入极大值个数为i的组合后,若无满足条件的组合,增加i的值,并重复步骤S4至S7,直到找出满足条件的组合;若已有满足条件的组合,则进入S9;S9、输出|Wwdkk|最小的攻击组合。

全文数据:

权利要求:

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