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存储器接口电路与内建自测试方法 

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申请/专利权人:美商矽成积体电路股份有限公司

摘要:本发明提供一种存储器接口电路与内建自测试方法。存储器接口电路包含时钟产生器、状态机、数据模式产生器、读寄存器、输入输出接口、写寄存器及比较器。时钟产生器将第一时钟信号转换为第二时钟信号。状态机根据第二时钟信号产生测试信号。数据模式产生器根据测试信号产生数据模式,其包含多个预定义数据。读寄存器按序输出多个预定义数据。输入输出接口根据写入选通信号从多个预定义数据获取多个数据。写寄存器从输入输出接口接收并存储多个数据。比较器将多个预定义数据与多个数据做比较以产生测试结果。测试结果用以验证输入输出接口的操作。借此,可进行环回内建自测试以高速测试输入输出接口。

主权项:1.一种存储器接口电路,其特征在于,包含:一时钟产生器,接收一第一时钟信号并将该第一时钟信号转换为一第二时钟信号;一状态机,耦接该时钟产生器并根据该第二时钟信号产生一测试信号;一数据模式产生器,耦接该状态机并根据该测试信号产生一数据模式,其中该数据模式包含多个预定义数据;一读寄存器,耦接该数据模式产生器并从该数据模式产生器接收所述多个预定义数据,其中该读寄存器按序输出所述多个预定义数据;一输入输出接口,耦接该读寄存器并从该读寄存器接收所述多个预定义数据,其中该输入输出接口包含一输入输出缓冲器,且该输入输出缓冲器根据一写入选通信号从所述多个预定义数据获取多个数据;一写寄存器,耦接该输入输出接口,其中该写寄存器从该输入输出接口接收并存储所述多个数据;以及一比较器,耦接该数据模式产生器与该写寄存器,其中该比较器将所述多个预定义数据与所述多个数据做比较以产生一测试结果,且该测试结果用以验证该输入输出接口的操作。

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权利要求:

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