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申请/专利权人：安庆师范大学
摘要：一种BLVT集成电路参数缩减方法与系统，属于集成电路测试领域，解决现有技术无法充分拟合测试数据之间的复杂关系的问题，包括充分采集芯片参数测试的数据，并通过利用FCBF算法与LASSO参数选择方法共同筛选数据集，降低待测晶圆的测试成本；同时，分析数据的不平衡问题，将测试结果中少数类别的平衡使用改进的ADASYN算法来解决，提高了晶圆的质量预测模型的分类准确率，本方法在缩减测试项的同时，也达到了较低的测试逃逸，保证了测试质量。
主权项：1.一种BLVT集成电路参数缩减方法，其特征在于：包括以下步骤，步骤1、采集芯片参数测试的数据，并对缺失值进行填补，得到完整的待测试数据；步骤2、对数据采用FCBF算法与LASSO参数选择方法共同筛选，两种算法分别进行筛选，保留后的参数项取共同部分得到最终的缩减后的数据集；步骤3、对缩减后的数据集通过ADASYN算法，平衡数据集；步骤4、对步骤3最终得到的特征数据进行XGBoost训练，通过具有CV协议的网格搜索方法在改进的平衡数据集上来调整超参数的值,得到最大AUC值。
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百度查询： 安庆师范大学 一种BLVT集成电路参数缩减方法与系统
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